Interferometric sensor for characterizing materials

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Interferometric sensor for characterizing materials
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

US20050190372A1
申请日

2004-08-16
公开（公告）日

2005-09-01
当前申请（专利权）人

UNIVERSITY OF CENTRAL FLORIDA
发明人

DOGARIU, ARISTIDE
简单同族

US20050190372A1 | US7307734 | WO2005017495A2 | WO2005017495A3
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

175
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移