Test strip and measurement device for its evaluation

详情

文本

图像

标题

Test strip and measurement device for its evaluation
授权日

2002-08-27
公开（公告）号

US6441898
申请日

2000-02-25
公开（公告）日

2002-08-27
当前申请（专利权）人

MARKART ERNST
发明人

MARKART, ERNST
简单同族

DE19944256A1 | DE19944256C2 | US6441898
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

26
诉讼案件数

0
法律状态/事件

未缴年费