标题

In situ tumor temperature profile measuring probe and method

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

US20020099304A1

申请日

2002-03-05

公开（公告）日

2002-07-25

当前申请（专利权）人

GENERAL ELECTRIC COMPANY

发明人

HEDENGREN, KRISTINA HELENA VALBORG | KORNRUMPF, WILLIAM PAUL | MILLER, MARK LLOYD | UZGIRIS, EGIDIJUS EDWARD

简单同族

US20020099304A1 | US6419635 | US6916290

简单同族成员数量

3

简单同族被引用专利总数

44

诉讼案件数

0

法律状态/事件

未缴年费