标题

Thin lancet for test sensor

授权日

2006-11-15

公开（公告）号

EP1174083B1

申请日

2001-07-02

公开（公告）日

2006-11-15

当前申请（专利权）人

BAYER CORPORATION

发明人

WHITSON, ROBERT C.

简单同族

AT345087T | AT443474T | AU2001054036A1 | AU769306B2 | CA2350313A1 | CA2350313C | DE60124460D1 | DE60124460T2 | DE60140012D1 | DK1174083T3 | DK1417929T3 | EP1174083A2 | EP1174083A3 | EP1174083B1 | EP1417929A2 | EP1417929A3 | EP1417929B1 | EP2100560A1 | EP2100560B1 | EP2275032A2 | EP2275032A3 | EP2275033A2 | EP2275033A3 | ES2276727T3 | ES2331126T3 | JP2002052012A | JP2011120932A | JP4808869B2 | PT1174083E | US20020004196A1 | US6561989

简单同族成员数量

31

简单同族被引用专利总数

588

诉讼案件数

0

法律状态/事件

权利终止