标题

Sample measuring device and sample measuring system

授权日

2019-06-26

公开（公告）号

EP2517620B1

申请日

2012-04-27

公开（公告）日

2019-06-26

当前申请（专利权）人

ARKRAY, INC.

发明人

KAI, AKINORI | WADA, ATSUSHI

简单同族

CN102759613A | CN102759613B | EP2517620A1 | EP2517620B1 | JP2012237748A | JP5878424B2 | US20120274443A1 | US8854206

简单同族成员数量

8

简单同族被引用专利总数

36

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权 | 权利转移