标题

Multi-point probe and electronic contact sheet for configuring same, multi-point probe array and multi-point probe manufacturing method

授权日

2018-12-26

公开（公告）号

EP3000389B1

申请日

2014-05-21

公开（公告）日

2018-12-26

当前申请（专利权）人

JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY

发明人

SOMEYA, TAKAO | SEKITANI, TSUYOSHI | SAKAI, SHINRI

简单同族

CN105228519A | CN105228519B | EP3000389A1 | EP3000389A4 | EP3000389B1 | JP2014226257A | JP6212814B2 | US10588525 | US20160100768A1 | WO2014189077A1

简单同族成员数量

10

简单同族被引用专利总数

5

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权