荧光―光学联合断层成像系统及测量方法

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荧光―光学联合断层成像系统及测量方法
授权日

2014-11-26
公开（公告）号

CN102920434B
申请日

2012-10-23
公开（公告）日

2014-11-26
当前申请（专利权）人

天津大学
发明人

高峰 | 张伟 | 武林会 | 李娇 | 周仲兴 | 张丽敏 | 赵会娟
简单同族

CN102920434A | CN102920434B
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

10
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权