Testing transfer-print micro-devices on wafer

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Testing transfer-print micro-devices on wafer
授权日

2019-08-27
公开（公告）号

US10396137
申请日

2018-03-08
公开（公告）日

2019-08-27
当前申请（专利权）人

X DISPLAY COMPANY TECHNOLOGY LIMITED
发明人

COK, RONALD S. | BOWER, CHRISTOPHER ANDREW
简单同族

US10396137 | US20180261658A1
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

2
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移