标题

발명의 명칭 전계발광 디스플레이에 대한 결함 이미터 검출

授权日

2013-03-08

公开（公告）号

KR101243887B1

申请日

2010-09-24

公开（公告）日

2013-03-20

当前申请（专利权）人

글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨

发明人

리베이찰스아이 | 레온펠립에이

简单同族

CN102549641A | EP2483884A1 | JP2013506873A | JP5364209B2 | KR101243887B1 | KR1020120087135A | TW201128599A | TWI380256B | US20110074429A1 | US8212581 | WO2011041225A1

简单同族成员数量

11

简单同族被引用专利总数

28

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权