Material property testing device and manufacturing method for the same

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Material property testing device and manufacturing method for the same
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

US20190006594A1
申请日

2017-07-21
公开（公告）日

2019-01-03
当前申请（专利权）人

WUHAN CHINA STAR OPTOELECTRONICS SEMICONDUCTOR DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人

LI, SONGSHAN
简单同族

US10305039 | US20190006594A1
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移