标题

Method for testing OLED substrate and OLED display

授权日

2006-10-17

公开（公告）号

US7122970

申请日

2004-08-25

公开（公告）日

2006-10-17

当前申请（专利权）人

CHI MEI OPTOELECTRONICS CORP. | INNOLUX CORPORATION

发明人

ONO, SHINYA | KOBAYASHI, YOSHINAO

简单同族

CN100362553C | CN1637816A | JP2005070614A | JP4534052B2 | TW200508621A | TWI237698B | US20050057193A1 | US7122970

简单同族成员数量

8

简单同族被引用专利总数

55

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权 | 权利转移