有機ELパネルの製造方法、及び有機EL素子形成用基板の検査装置、並びに当該基板の検査方法

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有機ELパネルの製造方法、及び有機EL素子形成用基板の検査装置、並びに当該基板の検査方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2017054735A
申请日

2015-09-10
公开（公告）日

2017-03-16
当前申请（专利权）人

株式会社カネカ
发明人

苗偉
简单同族

JP2017054735A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

撤回